Microscopio electrónico de barrido (PC-SEM)

Jeol JSM-6490 Bruker XFlash Detektor

Tipo: Jeol JSM-6490
Jeol JSM-6490 Microscopio electrónico de barrido (PC-SEM)
Moderno microscopio electrónico de barrido digital de alta resolución con óptica electrónica de nueva generación e interfaz gráfica de usuario (GUI) intuitiva bajo Microsoft Windows XP Professional.
Instalación del equipo incluyendo las siguientes características:
Rango de aumentos: 5x - 300.000x
Voltaje de aceleración: 0,3 - 30 kV
Cátodo de filamento de tungsteno (opcional cátodo LaB6)
Gran platina portamuestras totalmente motorizada con inclinación excéntrica, incl.
Navegación gráfica en el portamuestras
Navegación sencilla con Click-Center-Zoom
Navegación controlada por campo visual con 2 navegadores
Navegación por coordenadas relativas
Guardar y reproducir posiciones de las muestras
Ajuste configurable del área de imagen de la platina
Corrección del campo visual durante la rotación mediante rotación excéntrica controlada por ordenador
Corrección del campo visual durante la inclinación mediante inclinación excéntrica controlada por ordenador
Cálculo del ángulo de inclinación posible según la geometría de la muestra
Enfoque automático durante el desplazamiento en eje Z
Interruptores de límite inteligentes para los ejes motorizados
Recorrido del portamuestras:
x = 125 mm
y = 100 mm
z = 5 a 80 mm (regulable)
T = -10°C a +90°C
R = 360° (ilimitado)
Detector de electrones secundarios para funcionamiento en alto vacío
Nuevo objetivo supercónico que garantiza la máxima resolución incluso con grandes ángulos de inclinación
Resolución garantizada en imagen SE: 3 nm a 30 kV y 15 nm a 1 kV
Visualización simultánea en tiempo real de múltiples detectores
Navegación sencilla de la muestra mediante Click-Center-Zoom
Funciones avanzadas de medición de imágenes
Función "movie" para grabación de procesos dinámicos
Cámara de muestras versátil con numerosas opciones de ampliación: bridas libres, por ejemplo para EDX, WDX, EBSD, catodoluminiscencia, etc.
Sistema de bombeo silencioso, de bajo mantenimiento y desgaste, compuesto por bomba previa, bomba de difusión de alto rendimiento sin vibraciones y control de válvulas electromagnéticas
Extensa protección contra errores de operación y fallo de medios externos
Mesa ergonómica y ajustable en altura para el sistema
Kit de inicio SEM compuesto por 2 portamuestras, juego de herramientas y 6 cátodos de repuesto
Equipamiento adicional para el microscopio electrónico de barrido:
Bomba turbomolecular en lugar de la bomba de difusión estándar
Con el uso de la bomba turbomolecular, el SEM ya no requiere refrigeración por agua
Más equipamiento SEM:
PC para control del SEM incl. monitor TFT
ΟΧ200 Bruker Quantax 200 Sistema EDX EXTENDED
¡El software Bruker EDX será transferido al nuevo propietario después de la compra!
Sistema de análisis de rayos X de dispersión de energía sin nitrógeno incluyendo:
Detector SDD con resolución energética de 127 eV o mejor
Detección de todos los elementos a partir del boro
Sin vibraciones, sin mantenimiento. Refrigerado por Peltier (sin nitrógeno)
Procesador de pulsos
Monitor TFT
Medición de espectros e identificación de elementos
Análisis automático, cuantitativo y sin estándares de elementos
Captura de imagen
Barrido lineal cualitativo ultrarrápido
Mapeo elemental cualitativo ultrarrápido
Sistema de gestión y archivo de datos
Generación de reportes y resultados
Comunicación de datos
Redpfx Ajmn Rcqehfst
Instalación y formación inicial
HyperMap
Análisis multipunto
Detector Bruker xFlash (SDD) con unidad de procesamiento de señale

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