Microscopio de medición HITEC QZW 1, 250 x 170 mm

HITEC Messtechnik Messmikroskop QZW 1 M3 Software

Estado: muy bueno (usado), Funcionalidad: totalmente funcional, Ofrecemos aquí un microscopio de medición de alta gama QZW 1 de HITEC, tipo 400 x 250 mm. Software M3: detección automática de bordes, verificación de tolerancias según DIN/ISO, vista de elementos con introducción de tolerancias, vista de piezas con acotación, visualización de imagen en directo durante la medición, almacenamiento adicional de imágenes para su documentación. PC Dell táctil con Windows 10 (actualizable a Windows 11) Certificado de calibración válido hasta el 31.07.2025 ÁREA DE MEDICIÓN EJE X, Y 400 x 250 mm DESVIACIÓN DE LONGITUD 4 μm + L/100 (L en mm) ÁREA DE MEDICIÓN EJE Z 150 mm / opcional 350 mm SISTEMA DE MEDICIÓN EJE Z Opcional CÁMARA USB 3.0, 25 imágenes/seg, 2.0 megapíxeles OBJETIVO Lente fija / lente zoom opcional 0,7x - 4,5x (manual/motorizado) AUMENTO 40x o 35x – 225x (lente zoom) CAMPO DE VISIÓN 8 mm o 9 mm – 1,5 mm (lente zoom) ILUMINACIÓN SUPERFICIAL Anillo LED de 4 segmentos (opcional luz superficial coaxial) ILUMINACIÓN TRANSMITIDA LED (opcional telecéntrica) ASISTENTE DE POSICIONAMIENTO Puntero láser CAPACIDAD DE CARGA DE LA MESA máx. 20 kg INCLUYE QZW1, PC táctil de 23”, software M3, certificado de calibración, manual de instrucciones Gusdpfoxwb Dpox Aabji Aplicaciones: La gama QZW1 le permite realizar mediciones de alta precisión y repetibilidad en piezas complejas de cualquier material. Gracias a sus numerosas opciones como objetivo zoom, diferentes longitudes del eje Z y variadas dimensiones de mesa de medición, el QZW1 le ofrece todas las soluciones para sus necesidades de medición específicas por pieza.