Microscopio de medición HITEC QZW 1 400 x 250 mm

HITEC Messtechnik Messmikroskop QZW 1 M3 Software

Estado: muy bueno (usado), Funcionalidad: totalmente funcional, Ofrecemos aquí un microscopio de medición QZW 1 de HITEC en excelente estado Tipo: 250 x 170 mm Software M3: detección automática de bordes, control de tolerancias según DIN/ISO, vista de elementos con introducción de tolerancias, vista de piezas con acotación, visualización de imagen en vivo durante la medición, almacenamiento adicional de imágenes para su documentación PC táctil Dell con Windows 10 (actualizable a 11) Certificado de calibración válido hasta el 31.07.2025 ÁREA DE MEDICIÓN EJE X, Y 250 x 170 mm DESVIACIÓN DE LONGITUD 1,9 μm + L/100 (L en mm) ÁREA DE MEDICIÓN EJE Z 150 mm SISTEMA DE MEDICIÓN EJE Z opcional CÁMARA USB 3.0, 25 imágenes/s, 2,0 megapíxeles LENTE Lente fija / lente zoom opcional 0,7x - 4,5x (manual/motorizado) AUMENTO 40x o 35x - 225x (con lente zoom) CAMPO DE VISIÓN 8 mm o 9 mm - 1,5 mm (con lente zoom) ILUMINACIÓN SUPERFICIAL Anillo LED de 4 segmentos (opcional luz superficial coaxial) ILUMINACIÓN TRANSMITIDA LED (opcional telecéntrica) AYUDA DE POSICIONAMIENTO Puntero láser CAPACIDAD DE CARGA DE LA MESA máx. 20 kg Gujdpfx Aaexwb Hqsbsi INCLUYE QZW1, PC táctil de 23 pulgadas, software M3, certificado de calibración, manual de usuario Aplicaciones La serie QZW1 le ayuda en mediciones reproducibles y de alta precisión de piezas complejas de todos los materiales. Gracias a las numerosas opciones como lente zoom, diferentes longitudes de eje Z y distintas dimensiones de la mesa de medición, el QZW1 le ofrece todas las posibilidades para sus requerimientos específicos de medición de piezas.